DNS-1固體徑跡蝕刻測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)品介紹

DNS-1固體徑跡蝕刻測(cè)量系統(tǒng)是一款全自動(dòng)的,高性能的固體徑跡分析系統(tǒng)，可用來進(jìn)行氡濃度和中子劑量測(cè)量。對(duì)γ射線、β射線不靈敏。徑跡分析單元采用高性能的Nikon光學(xué)器件,3D機(jī)動(dòng)控制系統(tǒng)，可快速/精確地分析批量的探測(cè)器。

產(chǎn)品特點(diǎn)

v n全自動(dòng)分析批量探測(cè)器，單次可讀取64片探測(cè)器（1cm×1cm），單次分析數(shù)量連續(xù)可調(diào)

v n全自動(dòng)校正響應(yīng)衰變

v n本底低探測(cè)限可達(dá)5 kBq/m³，高探測(cè)限可達(dá)15 MBq/m³

v n線性度好于3%

v n具有自動(dòng)分辨氡/釷的能力

v n全自動(dòng)讀出ID號(hào)

v n自動(dòng)對(duì)焦，高性能成像技術(shù)，可區(qū)分蝕刻徑跡和本底

v n可全自動(dòng)讀取徑跡探測(cè)器信息，包括自動(dòng)識(shí)別探測(cè)器編碼、自動(dòng)測(cè)量探測(cè)器徑跡計(jì)數(shù)、自動(dòng)識(shí)別有效徑跡、標(biāo)記徑跡的絕對(duì)位置

v n徑跡讀數(shù)自動(dòng)轉(zhuǎn)換成劑量，結(jié)果保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中，還可把數(shù)據(jù)導(dǎo)出到Excel表中

DNS-1固體徑跡蝕刻測(cè)量系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)

蝕刻單元

v n蝕刻溶液：6.25mol/L氫氧化鈉溶液

v n蝕刻溫度：95℃

v n蝕刻時(shí)間：<5小時(shí)

v n單次最大蝕刻數(shù)量：≥250個(gè)（1cm*1cm，CR-39），蝕刻數(shù)量連續(xù)可調(diào)

v n蝕刻速率：蝕刻溫度為98 ℃時(shí)，速率為10μm/h

v n自動(dòng)控制整個(gè)化學(xué)蝕刻過程，并顯示當(dāng)前工作狀態(tài)

v n腔體采用堅(jiān)固耐用抗腐蝕的高強(qiáng)度材料

分析單元

v   徑跡分析單元采用高性能的Nikon光學(xué)器件,步進(jìn)電機(jī)為3D機(jī)動(dòng)控制系統(tǒng)，垂直水平方向精度可達(dá)0.1mm，可對(duì)相機(jī)運(yùn)行進(jìn)行編程

v n可自動(dòng)識(shí)別徑跡，并自動(dòng)扣除本底信號(hào)

v n可建立探測(cè)器徑跡數(shù)據(jù)庫(kù)并查看和計(jì)算測(cè)量結(jié)果

v 實(shí)時(shí)顯示相機(jī)圖像，并將掃描數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為劑量值，數(shù)據(jù)可輸出至其他軟件,如Excel

v n可通過軟件實(shí)時(shí)顯示識(shí)別圖像及徑跡位置

v n每個(gè)探測(cè)器徑跡圖像以圖片形式存，可通過軟件進(jìn)行徑跡位置、徑跡形態(tài)、徑跡數(shù)量等數(shù)據(jù)分析，可人工進(jìn)行徑跡數(shù)據(jù)進(jìn)行有效性判定。

v n可掃描各種尺寸的CR39探測(cè)器

v n當(dāng)徑跡密度大于1000計(jì)數(shù)/cm²,其測(cè)量重復(fù)性誤差小于1%

v n線性：≤4%

v n重復(fù)性：≤1%

v n識(shí)別本底：0.5tracks/mm²

v n探測(cè)限:對(duì)于氧測(cè)量，5Bq/m3~ 15MBq/m3:對(duì)于中子劑量測(cè)量，其劑量下限小于0.25mSv (相對(duì)不確定度≤25%)

v n放大倍數(shù)：≥100倍

v n徑跡識(shí)別密度：≥160 tracks/mm²

v n徑跡分析區(qū)域：≥80mm²（1cm×1cm，CR39）

v n探測(cè)器分析時(shí)間：≤30s（1cm×1cm，CR39）

v n連續(xù)工作能力：≥150chips/h（1cm×1cm，CR39）

v n進(jìn)行二次分析和統(tǒng)計(jì)

v n測(cè)量結(jié)果可輸多種文件格式

v n電源：220V 50Hz

氡探測(cè)器

v n材料：CR-39

v n照射時(shí)間：3個(gè)月或更長(zhǎng)

v n本底：少于20 tracks /cm^-2

v n不確定度：小于1 Bq m^-3

中子探測(cè)器

v n材料：CR-39

v n探測(cè)下限：20 mSv

v n精確度：±12.6% (100 mrem~3.400 mrem)

v n準(zhǔn)確度：0.7%(100 mrem~3.400 mrem)

v n快中子能量范圍：200 keV~15 MeV

v n厚度：1.5mm